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薄膜測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述：薄膜測(cè)厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測(cè)量，具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn)，可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺(tái)配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測(cè)量。

  • 產(chǎn)品型號(hào)：
  • 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間：2024-06-04
  • 訪  問  量：3273

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,電子
產(chǎn)品名稱：薄膜測(cè)厚儀
主要技術(shù)指標(biāo)：
   測(cè)量范圍（VIS）：15nm—100μm
   測(cè)量重復(fù)性（RMS）：0.086nm
   測(cè)量精度（與橢偏儀對(duì)比）：0.25nm
   測(cè)量層數(shù)：大于3層
   使用光源：鹵素?zé)簦?
入射角度：90°
   測(cè)試材料：透明或半透明薄膜材料；
   光斑尺寸：20μm—3mm（可選）
   測(cè)量時(shí)間：100ms—4ms；
   通信接口：USB2.0
產(chǎn)品特點(diǎn)：
采用光譜干涉原理進(jìn)行測(cè)量，具有非接觸、無破壞、快速等特點(diǎn)；
可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺(tái)配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測(cè)量。

薄膜測(cè)厚儀測(cè)試數(shù)據(jù)：

薄膜測(cè)厚儀設(shè)備組成：
測(cè)試主機(jī)、光纖、校正件、測(cè)量頭、夾持裝置、設(shè)備箱、手提電腦。
 

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